 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19810:2023 |  на печать | | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения самоочищающей способности полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 19810:2023 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения самоочищающей способности полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) Test method for self-cleaning performance of semiconducting photocatalytic materials under indoor lighting environment Measurement of water contact angle | | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 19810:2017 | | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 24.07.2023 | | Количество страниц оригинала | 18 | | Код цены | B | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 19810:2023 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
10530,00
|
|
|
|