KS C 0256(2022 Confirm) |  на печать | | Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe |
|
|  | Библиография | Обозначение | KS C 0256(2022 Confirm) | | Заглавие на английском языке | Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe | | Дата опубликования | 2002.05.29 | | Код МКС | 17.220.01 | |
| | Стандарт KS C 0256(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
2489,00
|
|
|
|