|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C 2150(2023 Confirm) | на печать | Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHzв€ј10 GHz) |
|
| | Библиография Обозначение | KS C 2150(2023 Confirm) | Заглавие на английском языке | Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHzв€ј10 GHz) | Дата опубликования | 2008.11.28 | Код МКС | 31.140 | |
| | Стандарт KS C 2150(2023 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|