 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 62951-1 |  на печать | | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates |
|
| | Библиография | Обозначение | KS C IEC 62951-1 | | Международный стандарт | IEC 62951-1:2017(IDT) | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates | | Дата опубликования | 2022.11.22 | | Код МКС | 31.080.99 | |
| | Стандарт KS C IEC 62951-1 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
2592,00
|
|
|
|