KS L 1619(2023 Confirm) |  на печать | | Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array |
|
|  | Библиография | Обозначение | KS L 1619(2023 Confirm) | | Заглавие на английском языке | Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array | | Дата опубликования | 2013.10.26 | | Код МКС | 29.045 | |
| | Стандарт KS L 1619(2023 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1493,00
|
|
|
|