 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC TR 63258 |  на печать | | Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films |
|
| | Библиография | Обозначение | KS C IEC TR 63258 | | Международный стандарт | IEC TR 63258:2021(IDT) | | Заглавие на английском языке | Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films | | Дата опубликования | 2024.05.31 | | Код МКС | 07.120 | |
| | Стандарт KS C IEC TR 63258 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|