 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19606:2024 | на печать | | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности пленки тонкой керамики с использованием атомно-силовой микроскопии |
|
|  | Библиография | Обозначение | ISO 19606:2024 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности пленки тонкой керамики с использованием атомно-силовой микроскопии | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) Test method for surface roughness of fine ceramic films by atomic force microscopy | | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 19606:2017 | | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 01.11.2024 | | Количество страниц оригинала | 32 | | Код цены | D | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |  |
|  | Стандарт ISO 19606:2024 входит в рубрики классификатора:
| | |
|  |
|
 |
 |
| Цены |
| На языке оригинала |
21384,00
|
|
|