 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 14849.4-2014 |  на печать | | Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 4пјљDetermination of impurity contents―Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 14849.4-2014 | | Заглавие на английском языке | Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 4пјљDetermination of impurity contents―Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method | | Дата опубликования | 2014-12-05 | | Дата вступления в силу | 2015-08-01 | | Код МКС | 77.120.10 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 14849.4-2008 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | H12 | |
| | Стандарт GB/T 14849.4-2014 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1786,00
|
|
|
|