 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 26065-2010 |  на печать | | Specification for polished test silicon wafers |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 26065-2010 | | Заглавие на английском языке | Specification for polished test silicon wafers | | Дата опубликования | 2011-01-10 | | Дата вступления в силу | 2011-10-01 | | Код МКС | 29.045 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 20 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H80 | |
| | Стандарт GB/T 26065-2010 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
2189,00
|
|
|
|