 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 19922-2005 |  на печать | | Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 19922-2005 | | Заглавие на английском языке | Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning | | Дата опубликования | 2005-09-19 | | Дата вступления в силу | 2006-04-01 | | Код МКС | 77.040.01 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | H17 | |
| | Стандарт GB/T 19922-2005 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1670,00
|
|
|
|