 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 29505-2013 |  на печать | | Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 29505-2013 | | Заглавие на английском языке | Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer | | Дата опубликования | 2013-05-09 | | Дата вступления в силу | 2014-02-01 | | Код МКС | 29.045 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 32 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H80 | |
| | Стандарт GB/T 29505-2013 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
3110,00
|
|
|
|