 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 5201-2012 |  на печать | | Test procedures for semiconductor charged particle detectors |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 5201-2012 | | Заглавие на английском языке | Test procedures for semiconductor charged particle detectors | | Дата опубликования | 2012-06-29 | | Дата вступления в силу | 2012-11-01 | | Код МКС | 27.120 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 5201-1994 | | Разработан на основе | IEC 60333:1993 | | Степень гармонизации | NEQ | | Количество страниц оригинала | 20 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | F88 | |
| | Стандарт GB/T 5201-2012 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
2189,00
|
|
|
|