 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17297:2025 |  на печать | | Анализ с использованием микропучка. Применение сфокусированного ионного пучка для подготовки образцов для TEM. Словарь |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17297:2025 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Применение сфокусированного ионного пучка для подготовки образцов для TEM. Словарь | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis Focused ion beam application for TEM specimen preparation Vocabulary | | Код КС (ОКС, МКС) | 01.040.71; 71.040.50 | | ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 1 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 26.05.2025 | | Количество страниц оригинала | 24 | | Код цены | C | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 17297:2025 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18346,00
|
|
|
|