 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 11505:2025 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 11505:2025 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 11505:2012 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 8 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 19.06.2025 | | Количество страниц оригинала | 42 | | Код цены | E | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 11505:2025 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|