 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS D ISO 14237 |  на печать | | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials |
|
| | Библиография | Обозначение | KS D ISO 14237 | | Международный стандарт | ISO 14237:2010(IDT) | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials | | Дата опубликования | 2025.05.12 | | Код МКС | 71.040.40 | |
| | Стандарт KS D ISO 14237 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|