 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS L ISO 5618-1 | на печать | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 1: Classification of defects |
|
|  | Библиография Обозначение | KS L ISO 5618-1 | Международный стандарт | ISO 5618-1:2023(IDT) | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 1: Classification of defects | Дата опубликования | 2025.03.06 | Код МКС | 81.060.30 |  |
|  | Стандарт KS L ISO 5618-1 входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|