 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS L ISO 5618-1 |  на печать | | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 1: Classification of defects |
|
| | Библиография | Обозначение | KS L ISO 5618-1 | | Международный стандарт | ISO 5618-1:2023(IDT) | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 1: Classification of defects | | Дата опубликования | 2025.03.06 | | Код МКС | 81.060.30 | |
| | Стандарт KS L ISO 5618-1 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|