 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 24577-2009 |  на печать | | Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 24577-2009 | | Заглавие на английском языке | Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography | | Дата опубликования | 2009-10-30 | | Дата вступления в силу | 2010-06-01 | | Код МКС | 29.045 | | Разработан на основе | SEMI MF1982-1103 | | Степень гармонизации | MOD | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H80 | |
| | Стандарт GB/T 24577-2009 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1339,00
|
|
|
|