 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 43063-2023 |  на печать | | Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 43063-2023 | | Заглавие на английском языке | Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors | | Дата опубликования | 2023-09-07 | | Дата вступления в силу | 2024-01-01 | | Код МКС | 31.200 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 36 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L54 | |
| | Стандарт GB/T 43063-2023 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
2549,00
|
|
|
|