 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 22572-2008 |  на печать | | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 22572-2008 | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials | | Дата опубликования | 2008-12-11 | | Дата вступления в силу | 2009-10-01 | | Код МКС | 71.040.40 | | Разработан на основе | ISO 20341:2003 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 8 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | G04 | |
| | Стандарт GB/T 22572-2008 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1037,00
|
|
|
|