 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 14862-1993 |  на печать | | Junction-to-case thermal resistance test methods of packages for semiconductor integrated circuits |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 14862-1993 | | Заглавие на английском языке | Junction-to-case thermal resistance test methods of packages for semiconductor integrated circuits | | Дата опубликования | 1993-12-30 | | Дата вступления в силу | 1994-10-01 | | Код МКС | 31.200 | | Разработан на основе | SEMI G30:1986гЂЃSEMI G43:1987 | | Степень гармонизации | NEQ | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L55 | |
| | Стандарт GB/T 14862-1993 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1253,00
|
|
|
|