 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 20176-2006 |  на печать | | Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 20176-2006 | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials | | Дата опубликования | 2006-03-27 | | Дата вступления в силу | 2006-11-01 | | Код МКС | 71.040.40 | | Разработан на основе | ISO 14237:2000 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 20 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | N33 | |
| | Стандарт GB/T 20176-2006 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1642,00
|
|
|
|