 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 41064-2021 |  на печать | | Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 41064-2021 | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films | | Дата опубликования | 2021-12-31 | | Дата вступления в силу | 2022-07-01 | | Код МКС | 71.040.40 | | Разработан на основе | ISO 17109:2015 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 20 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | G04 | |
| | Стандарт GB/T 41064-2021 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1555,00
|
|
|
|