 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 26068-2018 |  на печать | | Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 26068-2018 | | Заглавие на английском языке | Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method | | Дата опубликования | 2018-12-28 | | Дата вступления в силу | 2019-11-01 | | Код МКС | 77.040 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 26068-2010 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 32 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H21 | |
| | Стандарт GB/T 26068-2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1987,00
|
|
|
|