 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 30701-2014 |  на печать | | Surface chemical analysis―Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 30701-2014 | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis―Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy | | Дата опубликования | 2014-03-27 | | Дата вступления в силу | 2014-12-01 | | Код МКС | 71.040.40 | | Разработан на основе | ISO 17331:2004 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 24 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | G04 | |
| | Стандарт GB/T 30701-2014 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1858,00
|
|
|
|