 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 11685-2003 |  на печать | | Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 11685-2003 | | Заглавие на английском языке | Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers | | Дата опубликования | 2003-07-07 | | Дата вступления в силу | 2004-01-01 | | Код МКС | 27.120.01 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988 | | Разработан на основе | IEC 60759:1983 | | Степень гармонизации | NEQ | | Количество страниц оригинала | 32 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | F80 | |
| | Стандарт GB/T 11685-2003 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
2333,00
|
|
|
|