 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-7(2025) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-7(2025) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-7(2011) | | Дата опубликования | 27.11.2025 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 12 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 3.0 | | Статус | Действует | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 60749-7(2025) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
12960,00
|
|
|
|