 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| | Библиография | Обозначение | IEC/TS 62876-3-4(2025) | | Заглавие на английском языке | Nanomanufacturing - Reliability assessment - Part 3-4: Linearity of output characteristics for metal contacted 2D semiconductor devices | | МКС | 07.120 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 16.12.2025 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 24 | | ТК – разработчик стандарта | TC 113 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | F | |
| | Стандарт IEC/TS 62876-3-4(2025) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|