GB/T 46717-2025 |  на печать | | Semiconductor devices-Metallization stress void test |
|
|  | Библиография | Обозначение | GB/T 46717-2025 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices-Metallization stress void test | | Дата опубликования | 2025-10-31 | | Дата вступления в силу | 2026-05-01 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 62418:2010 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 20 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | L40 | |
| | Стандарт GB/T 46717-2025 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1572,00
|
|
|
|