GB/T 19444-2025 |  на печать | | Test method for oxygen precipition characteristics of silicon wafers-Interstitial oxygen reduction |
|
|  | Библиография | Обозначение | GB/T 19444-2025 | | Заглавие на английском языке | Test method for oxygen precipition characteristics of silicon wafers-Interstitial oxygen reduction | | Дата опубликования | 2025-06-30 | | Дата вступления в силу | 2026-01-01 | | Код МКС | 77.040 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 19444-2004 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H 21 | |
| | Стандарт GB/T 19444-2025 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1199,00
|
|
|
|