Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/3625187.aspx

ISO/TR 22335:2007

Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение скорости напыления: метод сетчатой реплики с применением механического матричного профилометра

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеISO/TR 22335:2007
Статус Действует
Вид стандартаST
Заглавие на русском языкеХимический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение скорости напыления: метод сетчатой реплики с применением механического матричного профилометра
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis -- Depth profiling -- Measurement of sputtering rate: mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
Код КС (ОКС, МКС)71.040.40
ТК – разработчик стандарта TC 201/SC 4
Язык оригиналаанглийский
Номер издания1
Дата опубликования02.07.2007
Количество страниц оригинала26
Код ценыC
Примечание

Стандарт ISO/TR 22335:2007 входит в рубрики классификатора: