| Обозначение | ISO 17331:2004 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности рабочих эталонных материалов из кремниевых пластин методом рентгеновской флюоресцентной спектроскопии с полным отражением спектра |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| Документы изменяющие (дополняющие) данный | ISO 17331:2004/Amd.1:2010 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 24.05.2004 |
| Количество страниц оригинала | 26 |
| Код цены | C |
| Примечание | |
 |