| Обозначение | IEC 60749-33(2004) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавы |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62172(2000) |
| Примечание | Издание на английском языке |
| Дата опубликования | 11.03.2004 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 12 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | C |
 |