| Обозначение | IEC 60749-24(2004) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещения |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62336(2002), IEC 60749(1996) в части, IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) в части, IEC 60749(1996)/Amd.2(2001) в части, IEC 60749(2002) в части |
| Примечание | Издание двуязычное. Публикация 2005 года |
| Дата опубликования | 01.12.2005 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | C |
 |