Библиография | Обозначение | IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Amendment 1 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяющего | IEC 60749-1(2002) в части, IEC 60749-2(2002) в части, IEC 60749-3(2002) в части, IEC 60749-4(2002) в части, IEC 60749-5(2003) в части, IEC 60749-6(2002) в части, IEC 60749-7(2002) в части, IEC 60749-8(2002) в части, IEC 60749-9 (2002) в части, IEC 60749-10(2002) в части, IEC 60749-11(2002) в части, IEC 60749-12(2002) в части, IEC 60749-13(2002) в части, IEC 60749-14(2003) в части, IEC 60749-15(2003) в части, IEC 60749-19(2003) в части, IEC 60749-20(2002) в части, IEC 60749-21(2004) в части, IEC 60749-22(2002) в части, IEC 60749-24(2004) в части, IEC 60749-25(2003) в части, IEC 60749-31(2002) в части, IEC 60749-32(2002) в части, IEC 60749-36(2003) | | Обозначение заменяемого в части | IEC 60749(1996) | | Дата опубликования | 01.07.2000 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 21 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 2.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | |  |
|