| Обозначение | IEC 60749-17(2003) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-17(2019) |
| Дата опубликования | 28.02.2003 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | B |
 |