| Обозначение | IEC 60147-5(1977) |
| Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | CLIMATIC TESTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*MECHANICAL TESTING*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TESTING*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749(1984) |
| Дата опубликования | 01.01.1977 |
| Язык оригинала | en*fr |
| Количество страниц оригинала | 37 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |