| Обозначение | IEC 60749-27(2003) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Машинная модель |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62180(2000) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-27(2006) |
| Дата опубликования | 30.10.2003 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 25 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |