| Обозначение | IEC 60147-2M(1980) |
| Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983) |
| Дата опубликования | 01.01.1980 |
| Язык оригинала | en*fr |
| Количество страниц оригинала | 73 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |