| Обозначение | IEC 60147-3(1970) |
| Заглавие на русском языке | Основные предельнодопустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений часть 3. Эталонные методы измерений |
| Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 3 : Reference methods of measurement |
| МКС | 31.020 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983) |
| Дата опубликования | 01.01.1970 |
| Язык оригинала | en*fr |
| Количество страниц оригинала | 29 |
| Количество страниц перевода | 20 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |