| Обозначение | IEC/PAS 62189(2000) |
| Заглавие на русском языке | Влияние смещения в течение срока службы полупроводникового прибора |
| Заглавие на английском языке | Bias Life |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-23(2004) |
| Дата опубликования | 01.11.2000 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 8 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |