| Обозначение | IEC 60749-29(2003) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание" |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62181(2000) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-29(2011) |
| Гармонизирован с: | IEC60749-29(CD 04-2004)WM/180D-04 |
| Дата опубликования | 13.11.2003 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 44 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |