| Обозначение | IEC 60749-16(2003) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 16. Обнаружение частиц по импульсному шуму |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62171(2000) |
| Дата опубликования | 31.01.2003 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 16 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | B |
 |