| Обозначение | IEC 60147-1K(1981) |
| Заглавие на английском языке | Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1: Essential ratings and characteristics. Tenth supplement. Chapter IX: Optoelectronic devices |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASUREMENT*OPTOELECTRONIC DEVICES*PROPERTIES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-5(1992) |
| Дата опубликования | 01.01.1981 |
| Язык оригинала | en*fr |
| Количество страниц оригинала | 31 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |