Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4018988.aspx

DIN EN 60749-30-2005

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 60749-30-2005
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005); German version EN 60749-30:2005
Дата опубликования01.06.2005
МКС31.080.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN IEC 60749-30(2003-06)
Обозначение заменяющегоDIN EN 60749-30(2011-12)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала15
Перекрестные ссылкиEN 60749-4(2002-08)*EN 60749-5(2003-03)*EN 60749-11(2002-08)*EN 60749-20(2003-06)*EN 60749-24(2004-04)*EN 60749-25(2003-09)*EN 60749-33(2004-04)*IEC 60749-4(2002-04)*IEC 60749-5(2003-01)*IEC 60749-11(2002-04)*IEC 60749-20(2002-09)*IEC 60749-24(2004-03)*IEC 60749-25(2003-07)*IEC 60749-33(2004-03)
Код ценыPreisgruppe 11

Стандарт DIN EN 60749-30-2005 входит в рубрики классификатора: