| Обозначение | DIN EN 60749-18-2003 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003 |
| Дата опубликования | 01.09.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-18(2002-05) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN IEC 60749-18(2020-02) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 15 |
| Перекрестные ссылки | |
| Код цены | Preisgruppe 11 |
 |