Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4029677.aspx

DIN EN 60749-8-2003

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 60749-8-2003
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); German version EN 60749-8:2003
Дата опубликования01.12.2003
МКС31.080.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN EN 60749(2002-09, partial)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала16
Перекрестные ссылкиEN 60068-2-17(1994-08)*IEC 60068-2-17(1994-07)
Код ценыPreisgruppe 12

Стандарт DIN EN 60749-8-2003 входит в рубрики классификатора: