| Обозначение | DIN EN 60749-9-2003 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002 |
| Дата опубликования | 01.04.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-9(2017-11) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 8 |
| Перекрестные ссылки | EN 60068-2-45(1992-08)*IEC 60068-2-45(1980) |
| Код цены | Preisgruppe 8 |
 |