| Обозначение | IEC 60747-7(1988) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 7: Биполярные транзисторы |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Discrete and integrated circuits; part 7: bipolar transistors |
| МКС | 31.080.30 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | ACCEPTANCE INSPECTION*BIPOLAR*BIPOLAR TRANSISTORS*COMPONENTS*DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*HIGH FREQUENCIES*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LAYOUT*LIFE (DURABILITY)*LOW FREQUENCIES*LOW-FREQUENCY ENGINEERING*MEASUREMENT*MEASURING TECHNIQUES*PROPERTIES*RADIOFREQUENCIES*RATINGS*REFERENCE METHODS*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*TRANSISTORS*ACCEPTANCE TESTING*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU*LIFE : DURABILITY*RADIO FREQUENCIES |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-7(2000) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-7(1988)/Amd.1(1991); IEC 60747-7(1988)/Amd.2(1994) |
| Дата опубликования | 01.01.1988 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 233 |
| Количество страниц перевода | 138 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/SC 47E |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |