| Обозначение | IEC 60748-2(1985) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые, интегральные схемы часть 2. Цифровые интегральные схемы |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Integrated circuits.. Part 2 : Digital integrated circuits |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | DEFINITIONS*DIGITAL CIRCUITS*DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRICAL TESTING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INTEGRATED CIRCUITS*LIFE (DURABILITY)*LIMITS (MATHEMATICS)*MEASURING TECHNIQUES*MICROPROCESSORS*OPERATING CONDITIONS*RATINGS*READ-ONLY STORAGE*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*STORAGE CIRCUITS*SYMBOLS*SPECIFICATIONS*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*READ ONLY MEMORIES*MATHEMATICS*DIGITAL INTEGRATED*LIFE : DURABILITY |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60147-0D(1974)*IEC 60147-0E(1979)*IEC 60147-1D(1981)*IEC 60147-1E(1973)*IEC 60147-2J(1978)*IEC 60147-2L(1979) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60748-2(1997.12) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60748-2(1985)/Amd.1(1991); IEC 60748-2(1985)/Amd.2(1993) |
| Дата опубликования | 01.01.1985 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 281 |
| Количество страниц перевода | 280 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |