| Обозначение | IEC 60749(1996) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | CLIMATE*CLIMATIC TESTS*COMPONENTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ENVIRONMENTAL TESTING*INTEGRATED CIRCUITS*MECHANICAL TESTING*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*TESTING*TESTING METHODS*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749(1984)*IEC 60749 AMD 1(1991.11)*IEC 60749 AMD 2(1993.09)*IEC 47/1394/FDIS(1996.03) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-1(2002) в части, IEC 60749-2(2002) в части, IEC 60749-3(2002) в части, IEC 60749-4(2002) в части, IEC 60749-5(2003) в части, IEC 60749-6(2002) в части, IEC 60749-7(2002) в части, IEC 60749-8(2002) в части, IEC 60749-9(2002) в части, IEC 60749-10(2002) в части, IEC 60749-11(2002) в части, IEC 60749-12(2002) в части, IEC 60749-13(2002) в части, IEC 60749-14(2003) в части, IEC 60749-15(2003) в части, IEC 60749-19(2003) в части, IEC 60749-20(2002-09) в части, IEC 60749-21(2004) в части, IEC 60749-22(2002) в части, IEC 60749-24(2004) в части, IEC 60749-25(2003) в части, IEC 60749-31(2002) в части, IEC 60749-32(2002) в части, IEC 60749-36(2003) в части |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60749(1996)/Amd.1(2000), IEC 60749(1996)/Amd.2(2001) |
| Дата опубликования | 01.10.1996 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 105 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |